2003年 6月 9日

レンズ加工機の横で、手軽に多品種少量の小型レンズを品質検査 低価格・小型・簡単操作を実現した小型LD干渉計 「KIF-10A-DW」発売

小型LD干渉計　「KIF-10A-DW」

オリンパス光学工業株式会社（社長：菊川 剛）は、近年小型化が進むデジタルカメラや情報機器などの小型レンズの表面形状を検査するために、低価格・小型・簡単操作を実現し、多品種少量の被検レンズを載せるだけで手軽に迅速な品質検査が行なえるダウンワードタイプ*1の小型LD*2干渉計*3「KIF-10A-DW」を、日本、アジアのレンズ加工工場をターゲットに6月16日から販売を開始します。

*1　ダウンワードタイプ： 被検レンズを干渉計ステージに置いて垂直方向（参照レンズとの距離）をハンドルで調節しながら計測するタイプ。 *2　LD： レーザダイオード（半導体レーザ）のこと。 *3　干渉計： 光の波長を利用し、基準となる波面と被検波面とを重ね合わせ、光路差により生じた干渉縞を捉え、被検物の表面形状や収差を測定する装置。

発売の概要

製品名 発売日 小型LD干渉計「KIF-10A-DW」 2003年 6月16日

主な特長の概要

小型レンズの多品種少量生産現場での迅速な品質検査に最適 低価格を実現 小型・簡単操作を実現

市場導入の背景

近年、デジタルカメラ、ビデオカメラ、液晶プロジェクタ、カメラ付き携帯電話などの情報機器は、小型高機能化、ラインアップの多様化、ライフサイクルの短命化が顕著になっており、これら情報機器に使われるレンズも小型高精度化が求められています。また、世界のレンズ生産の80％強は中国・東南アジアで大量生産され、開発試作、多品種少量生産を中心とする日本との分業体制が明確になりつつあります。 このような背景のもと、レンズの加工工程内での精度保証の重要性から、「いつでも、どこでも検査が出来る装置」「作業者の誰もが手軽に迅速に検査できる装置」が求められるようになりました。 小型LD干渉計「KIF-10A」シリーズは、これらの要求にお応えすべく、検査対象を小型レンズに絞り込み、装置本体の小型・簡単操作・低価格を実現し、従来はレンズ加工工場内の加工ラインに1台程度しか設置できなかった干渉計が、加工機1台あるいは作業者1人に1台設置することを可能にしました。 この度当シリーズに、小型レンズの大量生産に対応したアップワードタイプ*4干渉計に加え、ダウンワードタイプの小型LD干渉計「KIF-10A-DW」を追加することにより、小型レンズの開発試作・多品種少量生産への対応が可能となりました。 当社は、1994年から小型レーザー干渉計の販売を開始し、普及機から高級機までラインアップを拡充してきました。今後は、測定対象の小型・高精度化に対応し、レーザ干渉計KIFシリーズの更なる充実を図っていきます。 *4　アップワードタイプ： 専用治具に載せた被検レンズを干渉計ステージに置き、計測するタイプ。

主な特長の詳細

小型レンズの多品種少量生産現場での迅速な品質検査に最適 仕様の異なるレンズ検査の度に専用治具が不要なため、多品種少量の検査に最適です。また、レンズを置くだけで顕微鏡感覚の簡単操作により手軽に迅速な品質検査が可能です。 低価格を実現 小型化と目視検査専用の仕様に絞ることで、国内外のあらゆる工場で購入できるお求め 易い価格を実現しました。 小型・簡単操作を実現 小型レンズを手軽に検査するというニーズに合わせた小型・簡単操作の干渉計を実現しました。

主な仕様

測定方法 フィゾー型干渉計 口径 φ25.4 mm（1インチ） 被検査物の大きさ R：＋140mm～－113mm 直径：～約110mm ※検査可能口径及び曲率半径は被検物の形状により異なります。 観察倍率 1倍 参照レンズ面精度 λ/15（球面及び平面） 光源 半導体レーザ ( 635 nm ) クラス2製品 レーザ出力 0.8mw 以下 電源 一次電源 AC100～240V 50/60Hz 本体供給電源 DC12V 本体外形寸法 180（W）×230（D）×440（H）mm 本体質量 約5.2kg 主なオプション群 3軸ステージ、2軸ステージ、リニアスケール 小型液晶モニタ（2.5インチ、5.6インチ） 参照レンズF0.6・F0.7・F1.0・F1.5・F2.0・F3.0・F6.0・RF

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